同惠TH2838A在新型半導(dǎo)體與晶體管絕
在半導(dǎo)體技術(shù)持續(xù)演進(jìn)的當(dāng)下，二維（2D）層狀半導(dǎo)體憑借原子級(jí)厚度帶來(lái)的卓越柵場(chǎng)穿透特性，成為未來(lái)晶體管通道材料的關(guān)鍵候選者。對(duì)這類新材料的參數(shù)精準(zhǔn)測(cè)定，是推動(dòng)其
線纜插入損耗測(cè)試
線纜插入損耗測(cè)試被測(cè)件：線纜長(zhǎng)度：70cm（不帶轉(zhuǎn)接頭）頻率范圍：100~800MHz功率：0dBm測(cè)試項(xiàng)目：插入損耗（S21）測(cè)試儀器：SNA5026X-E；
半導(dǎo)體材料特性測(cè)試
一、概述該方案旨在使用TH2690高精度靜電計(jì)，對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行電學(xué)特性測(cè)試。通過(guò)電流測(cè)試模式，評(píng)估材料在不同條件下的響應(yīng)特性，為客戶的材料研究與產(chǎn)品開發(fā)提供數(shù)
LCR測(cè)試儀 —線纜參數(shù)測(cè)量的好幫手
對(duì)于線纜生產(chǎn)的廠家，會(huì)有規(guī)定的線纜的出廠合格標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)于線纜容值以及電感量有明確的要求，但是要如何方便快捷的測(cè)量這些參數(shù)并且適應(yīng)于產(chǎn)線上呢，這就不得不提到我們LC
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